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近日，据的监听王海良课题组利用XANES等先进表征技术研究富含缺陷的单晶超薄四氧化三钴纳米片及其电化学性能（Adv.EnergyMater.2018,8,1701694）,如图一所示。材料结构组分表征目前在储能材料的常用结构组分表征中涉及到了XRD,NMR,XAS等先进的表征技术，开美此外目前的研究也越来越多的从非原位的表征向原位的表征进行过渡。

该研究工作利用了XANES等技术分析了富含缺陷的四氧化三钴的化学环境，国市从而证明了其中氧缺陷的存在及其相对含量。UV-vis是简便且常用的对无机物和有机物的有效表征手段，无依为华为打常用于对液相反应中特定的产物及反应进程进行表征，如锂硫电池体系中多硫化物的测定。而目前的研究论文也越来越多地集中在纳米材料的研究上，据的监听并使用球差TEM等超高分辨率的电镜来表征纳米级尺寸的材料，据的监听通过高分辨率的电镜辅以EDX,EELS等元素分析的插件来分析测试，以此获得清晰的图像和数据并做分析处理。

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Fig.2In-situXRDanalysisoftheinteractionsduringcycling.（a）XRDintensityheatmapfrom4oto8.5oofa2.4mgcm–2cellsfirstcycledischargeat54mAg–1andchargeat187.5mAg–1,wheretriangles=Li2S,square=AQ,asterisk=sulfur,andcircle=potentiallypolysulfide2θ.(b)ThecorrespondingvoltageprofileduringtheinsituXRDcyclingexperiment.材料形貌表征在材料科学的研究领域中，无依为华为打常用的形貌表征主要包括了SEM，无依为华为打TEM，AFM等显微镜成像技术。

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